ເບິ່ງຕົວເລກສິນຄ້າຜະລິດຕະກູນ:
SN74BCT8374ADWR
Product Overview
ຜູ້ຜະລິດ:
Texas Instruments
ເລະທີ່ສ່ວນ:
SN74BCT8374ADWR-DG
ຄໍາອະທິບາຍ:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
ລາຍລະອຽດເພີ່ມເຕີມ:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
ສິນຄ້າ:
1548991
ຂໍບິດລາຄາ
ປ່ອນຈຳນວນ
ขั้นต่ำ 1
ขั้นต่ำ 1
(*) ຄືກົດໝາຍ
ພວກເຮົາຈະກັບເພີ່ມໃຫ້ທ່ານກັບໃນເວລາ 24 ຊົ່ວໂມງ
ພວກເຮົາຈະກັບເພີ່ມໃຫ້ທ່ານກັບໃນເວລາ 24 ຊົ່ວໂມງ
ສົ່ງ
SN74BCT8374ADWR ຂະບວນການບອກຂໍແລະຄວາມເປັນຄວາມແນ່ນອນ
ໝວດໝູ່
ພາລະ, ເລອກິກຊັ່ນເພີ່ນສະພໍນິມະວິນແລະບັດຉົນສະຫະລະສິດ
ຜູ້ຜະລິດ
Texas Instruments
ບັນທຶກ
-
ຊຸດ
74BCT
ສະຖານະພາບຜະລິດຕະພັນ
Obsolete
ປະເພດ Logic
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
ອຸປະກອນ Voltage
4.5V ~ 5.5V
ຈໍານວນ bits
8
ອຸນຫະພູມການດໍາເນີນງານ
0°C ~ 70°C
ປະເພດການຕິດຕັ້ງ
Surface Mount
ແພັກເກດ / ກະເປົ໋າ
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
ແພັກເກດອຸປະກອນຜູ້ປະກອ
24-SOIC
ເລກຜະລິດຕະພັນພື້ນຖານ
74BCT8374
ໃບບັດແລະເອກະສານ
ໃບຂໍ້ມູນ
ຂໍໍະແນິນໃຫ່ມກໍາການ
ແພັກເກດມາດຕະຖານ
2,000
ການແຈ້ງປ່ອນແລະການຈັດປ່ອນສໍາລັດເສດຖະກິດ
ສະຖານະພາບ RoHS
ROHS3 Compliant
ລະດັບຄວາມຮູ້ສຶກຂອງຄວາມຊຸ່ມເຢັນ (MSL)
1 (Unlimited)
ສະຖານະພາບ REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
ການສະແດງດິຈິທັນ
ຜະລິດຕະພັນທີ່ໃກ້ຄຽວ
SN74BCT29854NT
IC TRANSCEIVER 1-9BIT 24DIP
SN74FB1650PCA
IC 18-BIT TTL/BTL XCVR 100-HLQFP
SN74FB2041ARC
IC 7BIT TTL/BTL XCVR 52-QFP
