ເບິ່ງຕົວເລກສິນຄ້າຜະລິດຕະກູນ:
SN74BCT8240ANT
Product Overview
ຜູ້ຜະລິດ:
Texas Instruments
ເລະທີ່ສ່ວນ:
SN74BCT8240ANT-DG
ຄໍາອະທິບາຍ:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
ລາຍລະອຽດເພີ່ມເຕີມ:
Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-PDIP
ສິນຄ້າ:
1575848
ຂໍບິດລາຄາ
ປ່ອນຈຳນວນ
ขั้นต่ำ 1
ขั้นต่ำ 1
(*) ຄືກົດໝາຍ
ພວກເຮົາຈະກັບເພີ່ມໃຫ້ທ່ານກັບໃນເວລາ 24 ຊົ່ວໂມງ
ພວກເຮົາຈະກັບເພີ່ມໃຫ້ທ່ານກັບໃນເວລາ 24 ຊົ່ວໂມງ
ສົ່ງ
SN74BCT8240ANT ຂະບວນການບອກຂໍແລະຄວາມເປັນຄວາມແນ່ນອນ
ໝວດໝູ່
ພາລະ, ເລອກິກຊັ່ນເພີ່ນສະພໍນິມະວິນແລະບັດຉົນສະຫະລະສິດ
ຜູ້ຜະລິດ
Texas Instruments
ບັນທຶກ
-
ຊຸດ
74BCT
ສະຖານະພາບຜະລິດຕະພັນ
Obsolete
ປະເພດ Logic
Scan Test Device with Inverting Buffers
ອຸປະກອນ Voltage
4.5V ~ 5.5V
ຈໍານວນ bits
8
ອຸນຫະພູມການດໍາເນີນງານ
0°C ~ 70°C
ປະເພດການຕິດຕັ້ງ
Through Hole
ແພັກເກດ / ກະເປົ໋າ
24-DIP (0.300", 7.62mm)
ແພັກເກດອຸປະກອນຜູ້ປະກອ
24-PDIP
ເລກຜະລິດຕະພັນພື້ນຖານ
74BCT8240
ໃບບັດແລະເອກະສານ
ຂໍໍະແນິນໃຫ່ມກໍາການ
ແພັກເກດມາດຕະຖານ
60
ຊື່ ອື່ນໆ
TEXTISSN74BCT8240ANT
2156-SN74BCT8240ANT-TI
-SN74BCT8240ANT-NDR
ການແຈ້ງປ່ອນແລະການຈັດປ່ອນສໍາລັດເສດຖະກິດ
ສະຖານະພາບ RoHS
ROHS3 Compliant
ລະດັບຄວາມຮູ້ສຶກຂອງຄວາມຊຸ່ມເຢັນ (MSL)
1 (Unlimited)
ສະຖານະພາບ REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
ການສະແດງດິຈິທັນ
ຜະລິດຕະພັນທີ່ໃກ້ຄຽວ
SN74BCT8245ADWR
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
SY100EL16VAZC TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
SY100EL16VZC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
