ເບິ່ງຕົວເລກສິນຄ້າຜະລິດຕະກູນ:
SN74ABTH182646APM
Product Overview
ຜູ້ຜະລິດ:
Texas Instruments
ເລະທີ່ສ່ວນ:
SN74ABTH182646APM-DG
ຄໍາອະທິບາຍ:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
ລາຍລະອຽດເພີ່ມເຕີມ:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
ສິນຄ້າ:
1696399
ຂໍບິດລາຄາ
ປ່ອນຈຳນວນ
ขั้นต่ำ 1
ขั้นต่ำ 1
(*) ຄືກົດໝາຍ
ພວກເຮົາຈະກັບເພີ່ມໃຫ້ທ່ານກັບໃນເວລາ 24 ຊົ່ວໂມງ
ພວກເຮົາຈະກັບເພີ່ມໃຫ້ທ່ານກັບໃນເວລາ 24 ຊົ່ວໂມງ
ສົ່ງ
SN74ABTH182646APM ຂະບວນການບອກຂໍແລະຄວາມເປັນຄວາມແນ່ນອນ
ໝວດໝູ່
ພາລະ, ເລອກິກຊັ່ນເພີ່ນສະພໍນິມະວິນແລະບັດຉົນສະຫະລະສິດ
ຜູ້ຜະລິດ
Texas Instruments
ບັນທຶກ
Tray
ຊຸດ
74ABTH
ສະຖານະພາບຜະລິດຕະພັນ
Active
ປະເພດ Logic
Scan Test Device With Transceivers And Registers
ອຸປະກອນ Voltage
4.5V ~ 5.5V
ຈໍານວນ bits
18
ອຸນຫະພູມການດໍາເນີນງານ
-40°C ~ 85°C
ປະເພດການຕິດຕັ້ງ
Surface Mount
ແພັກເກດ / ກະເປົ໋າ
64-LQFP
ແພັກເກດອຸປະກອນຜູ້ປະກອ
64-LQFP (10x10)
ເລກຜະລິດຕະພັນພື້ນຖານ
74ABTH182646
ໃບບັດແລະເອກະສານ
ໃບຂໍ້ມູນ
ຂໍໍະແນິນໃຫ່ມກໍາການ
ແພັກເກດມາດຕະຖານ
160
ຊື່ ອື່ນໆ
-296-4133-DG
-74ABTH182646APMG4-NDR
74ABTH182646APMG4-DG
74ABTH182646APMG4
2156-SN74ABTH182646APM
-296-4133
TEXTISSN74ABTH182646APM
296-4133-NDR
-SN74ABTH182646APM-NDR
-74ABTH182646APMG4
296-4133
ການແຈ້ງປ່ອນແລະການຈັດປ່ອນສໍາລັດເສດຖະກິດ
ສະຖານະພາບ RoHS
ROHS3 Compliant
ລະດັບຄວາມຮູ້ສຶກຂອງຄວາມຊຸ່ມເຢັນ (MSL)
3 (168 Hours)
ສະຖານະພາບ REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
ການສະແດງດິຈິທັນ
ຜະລິດຕະພັນທີ່ໃກ້ຄຽວ
SN74ABT8543DL
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP
SN74ABTH18652APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SY100EL16VCKI-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
